放射性環(huán)境中，高能粒子和中子流會(huì)對(duì)紅外熱像儀的探測(cè)器造成多維度損害，影響程度與輻射劑量、暴露時(shí)間及探測(cè)器類型密切相關(guān)，德國(guó)optris進(jìn)行以下具體介紹：

對(duì)于光子探測(cè)器，γ射線和中子會(huì)直接破壞半導(dǎo)體材料的晶格結(jié)構(gòu)。晶格缺陷會(huì)導(dǎo)致載流子壽命縮短，探測(cè)器的響應(yīng)率下降，表現(xiàn)為熱像圖信噪比降低、溫度測(cè)量精度偏差增大。當(dāng)累積輻射劑量超過100 Gy時(shí)，部分像素可能出現(xiàn)永久性失效，形成“死點(diǎn)”——在熱像圖上呈現(xiàn)固定的異常亮斑或暗斑。

非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)雖對(duì)電離輻射敏感性較低，但長(zhǎng)期暴露仍會(huì)產(chǎn)生影響。β射線會(huì)沉積能量在探測(cè)器的熱敏層，會(huì)導(dǎo)致材料電阻特性漂移，使暗電流增大。當(dāng)劑量率超過10 Gy/h時(shí)，探測(cè)器的熱靈敏度會(huì)顯著惡化，原本能分辨0.05℃溫差的設(shè)備可能降至0.2℃以上，無法捕捉細(xì)微溫度變化。此外，輻射還會(huì)加速封裝材料老化，導(dǎo)致探測(cè)器真空度下降，進(jìn)一步削弱性能。

放射性環(huán)境的次級(jí)效應(yīng)同樣不容忽視。高能輻射與空氣作用產(chǎn)生的臭氧會(huì)腐蝕探測(cè)器的光學(xué)窗口，降低紅外透過率；輻射引發(fā)的材料釋氣可能污染探測(cè)器表面，形成吸收層。這些間接損害會(huì)使熱像儀的成像對(duì)比度下降，甚至出現(xiàn)圖像模糊。

德國(guó)optris提示應(yīng)對(duì)措施需結(jié)合防護(hù)設(shè)計(jì)：選用厚鉛或鎢合金屏蔽外殼可衰減90%以上的γ射線；在探測(cè)器前端加裝聚酰亞胺薄膜可阻擋α和β粒子。但需注意，過度屏蔽會(huì)增加設(shè)備重量，影響便攜性，對(duì)于高劑量環(huán)境，建議采用短時(shí)間快速檢測(cè)模式，減少累積損傷。